結合各種識別工具，實現(xiàn)對所有粒子的測量和分析

通過讀取SEM或TEM拍攝的圖像并識別目標顆粒，自動計算粒度分布并量化顆粒形狀。
通過使用手寫板的手動分析工具，可以輕松識別形狀復雜的顆粒和聚集的顆粒。

Mac-View Version.5 的新功能和改進

-在粒子采集模式中增加了“針形"

Mac-View Version.5 的特點

■ 凝聚粒子的一次粒徑分析

可以評價凝集粒子的初級粒徑，這在過去是困難的。

■ 納米粒子的評價

只要有尺度信息，無論顆粒大小如何，都可以進行分析。

■ 多方面分析/評估

可以自動測量粒度分布并分析顆粒形狀（圓度、縱橫比等）。另外，可利用的數(shù)據豐富，可以評價凝聚粒子的初級粒子。

■ 易于操作

不需要特別的知識，操作簡單，與作業(yè)人員的熟練程度無關。

■ 無需昂貴的資本投資

只要您準備好圖像（jpeg、位圖），您就可以在 PC 上安裝軟件后立即使用它。

應用實例

納米粒子、凝聚粒子、造粒體、燒結體截面、乳化粒徑等

支持軟件

■ 粉體分析綜合軟件Mac-PIAS

Mac-PIAS是一個全新維度的綜合粉體分析軟件，可以對任何方法測得的“粒度分布數(shù)據"進行統(tǒng)一管理和分析。

■ 篩分試驗數(shù)據分析軟件Macmesh

Macmesh 是一種工具，可以消除篩選測試中的人為錯誤，數(shù)據量大，工作效率高。